Контрольно-измерительное оборудование Kexin
Портативный тестер KX-T60/T60C (для измерения толщины меди на поверхности платы/заготовки)
Портативный тестер KX-T65 (для измерения толщины меди в отверстии платы/заготовки)
Настольный тестер KX-T70 (для измерения толщины меди на поверхности и в отверстии платы/заготовки)
Настольный тестер KX-MM805 (для измерения толщины меди на поверхности и в отверстии платы/заготовки)
Устройство KX-L550 (для измерения толщины платы/заготовки)
Металлографический микроскоп KX-M40
X-флуоресцентный спектрометр ISP/iEDX-150T/150WT (измерение толщины покрытия)
Тестер KX-H (для измерения импеданса методом TDR)
Автоматический тестер KX-HCT80 (для измерения сопротивления тока)
Тестер KX-FTT-06 (для измерения температуры в печи)
Тестер KX-ICT (для измерения ионного загрязнения)
Тестер SCS/Ionograph (для измерения ионного загрязнения)
X-флуоресцентный спектрометр ISP/iEDX-100A (для обнаружения вредных веществ по стандарту RoHS)
X-флуоресцентный спектрометр KX-R103 (для обнаружения вредных веществ по стандарту RoHS)
Защитное устройство KX-AA800
Устройство KX-Peel-01 (для испытания на отрыв медной фольги)
Автоматическое устройство KX-V (для измерения геометрии объектов)
Анализатор CVS (для гальванического раствора)
Возврат на предыдущую страницу
Наверх
